随着电子产品功能复杂度的不断提升和人工检测成本的提高,为满足日益严格的质量标准,对自动化测试系统的功能复合性、灵活性和自动化程度均提出了更高要求。
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针对这些需求,NI为新一代自动化测试系统提出了以软件为中心的模块化解决方案。基于业界主流的自动化测试平台PXI,可选择具有不同功能与指标的模块化仪器,满足功能、成本与体积等方面需求。
通过与PXI平台无缝连接的应用开发工具与系统管理软件,用户可通过交互式的方式确定系统参数,并自定义测试系统的功能,进而满足灵活性、可扩展性与可维护性等需求。
开放的PXI硬件平台和灵活的软件工具还可兼容基于GPIB、LAN、Serial等接口的传统仪器,确保先前的设备投资。
 
多年来NI一直助力全球领先的电子制造商构建自动化测试系统。 在本次研讨会中,NI工程师将与您探讨自动化测试系统的参考设计架构,并分享消费电子、半导体等行业的典型测试应用与成功案例,以及加速测试速度、降低测试成本的方法与技巧。
 
研讨会涵盖内容
 
‐混合信号测试
‐音视频测试
‐半导体测试
‐射频与无线测试
‐机器视觉检测
‐基于并行测试加速生产测试
* 注:专题内容各站可能有所不同,以实际场次为准
研讨会亮点
● 业界主流模块化仪器平台PXI技术详解
● 解析国内外测试项目案例
● 探讨基于NI LabVIEW与TestStand提高测试系统开发效率的有效途径
 
日 期 站 点 时 间 地 点
6月28日 深圳 14:00―17:00 金茂深圳JW万豪酒店3楼会议室I&II(福田区深南大道6005号)
7月5日 东莞 14:00―17:00 东莞会展国际大酒店4楼8号厅(市新城区中心会展北路)
7月12日 广州 14:00―17:00 广州建国酒店3楼M7会议厅(天河区林和中路172号)
7月19日 珠海 14:00―17:00 珠海怡景湾大酒店5楼主会议室(吉大情侣中路47号)
7月26日 苏州 14:00―17:00 苏州建屋豪生全套房酒店2楼多功能厅II(苏州工业园区高和路78号)
 
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