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·环境应力筛选有关问题的探讨 (2009/12/18 14:48:23)
随着科学技术的发展以及为适应现代战争的武器装备的使用要求的提高，军事装备的可靠性也在进一步提高，从而促进了可靠性工作向科学化和规范化方向发展。目前我国军事装备的可靠性水平与国际先进水平仍有较大的差距，还有许多工作要做。...

·HALT & HASS 可靠性测试的应用 (2009/12/18 14:38:33)
HALT&HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现...

·可靠性验收试验 (2009/12/17 16:51:50)
验证交付的批生产产品是否满足规定的可靠性要求。这种试验必须反映实际使用情况，并提供要求验证的可靠性参数的估计值。

·可靠性鉴定试验 (2009/12/17 16:26:59)
向订购方提供合格证明，即产品在批准投产之前已经符合合同规定的可靠性要求。可靠性鉴定试验必须对要求验证的可靠性参数值进行估计，并做出合格与否的判定。

·可靠性增长试验 (2009/12/17 16:25:00)
一种有计划的试验、分析和改进过程。在这一试验过程中，产品处于真实的或模拟的环境下，以暴露设计中的缺陷，对暴露出的问题采取纠正措施，从而达到预期的可靠性增长目标。

·可靠性研制试验 (2009/12/17 16:24:26)
通过向受试产品施加应力将产品中存在的材料、元器件、设计和工艺缺陷激发成为故障，进行故障分析定位后，采取纠正措施加以排除。

·测量侧壁隔离的3D-AFM方法 (2009/12/17 10:42:11)
侧壁隔离主要用于精细的MOSFET制程中，它们直接确定了沟道长度、结的几何形状和陡峭度，从而确定了晶体管的较终电特性。常用的CD-SEM和光学散射测量法（OCD）面临原理上的极限。由于先进的半导体逻辑和存储器件制造严格遵循ITRS路线图，为...

·非易失性半导体存储器的相变机制 (2009/12/16 13:14:15)
作者：RobertoBez，恒忆研发中心技术开发部研究员非易失性存储器(NVM)在半导体市场占有重要的一席之地，特别是主要用于手机和其它便携电子设备的闪存芯片。今后几年便携电子系统对非易失性存储器的要求更高，数据存储应用需要写入速度...

·LED产品可靠性试验与应用 (2009/12/15 13:19:57)
本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。　　由于地球的能...

·下一代数据中心之关键：网络虚拟化 (2009/12/15 9:04:48)
数据中心在面临预算不断紧缩和数据日益猛增的严峻压力下，越来越多的客户纷纷寄希望于虚拟数据中心，以达到提高硬件利用率、实现节能、提高数据的可用性和IT服务水平的目的。虚拟化数据中心被称为下一代数据中心（或DC2.0），而支持其得...

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