爱德万测试解读中国市场需求，力推三款新品

2014年08月20日17:07:51 本网站我要评论(2)字号：T | T | T

在日前举行的爱德万测试北京发布会上，爱德万测试（中国）管理有限公司业务战略发展部高级总监陆亚奇介绍了中国半导体测试市场的发展趋势，应用技术支持部高级经理刘旸介绍了新推出的三款新产品。

中国半导体测试市场今非昔比

陆亚奇表示，中国半导体测试市场已从2003年占全球份额的10%多一点发展到今天的50%以上，中国不仅仅是一个制造基地，其核心价值在慢慢提升。中国的IC供应已不能满足迅速增长的需求，已成为超过石油的第一位进口产品。这源于本地设计公司的不断发展，2013年，排名前5的设计公司已占到IC设计销售额的32%，有两家中国设计公司进入了全球排行前25名。在政府的积极推动下，电子信息产业的发展将推进IC需求不断增长。

陆亚奇介绍说，爱德万测试一直在支持中国的半导体测试、仪器仪表测试的发展，除了传统的半导体测试、机电一体化之外，还涉足电子测量、纳米技术，以及太赫兹波测量和MEMS技术等新的业务，以满足中国半导体测试市场新的需求。

其中CTS云测试服务是行业第一个电子商务平台，提供按需的测试解决方案。它是专门为教育、半导体研发优化的服务。另一个新业务是旨在彻底改变下一代半导体生产工艺的电子束光刻（EB）解决方案。随着IC器件的不断小型化，作为针对新一代设计规则的有用技术，电子束曝光技术正日益受到关注。爱德万测试提供的电子束光刻系统采用电子束直写技术，不仅可作为一种研发设计工具，而且也适合作为LSI生产线的工具，特别是针对小批量、多类型产品的生产系统。爱德万的电子束解决方案有助于降低开发成本，缩短开发周期。

新业务中的扫描电镜测量/成像系统E3310是一个多视觉计量SEM，支持下一代晶圆，包括1Xnm节点工艺的开发和量产22纳米及以下节点。

测试解决方案日臻完善

此次推出的三款新产品分别是针对V93000平台的PVI8浮动电源、T2000 1.6GDM数字模块和T2000增强型组件电源供应模块DPS150AE。

刘旸介绍说，全新PVI8浮动电源可以使V93000平台测试高电压和大电流的IC，增强功能帮助受欢迎的测试平台解决SoC的市场经济日益融合趋势。PVI8浮动电源扩展了公司市场领先的V93000测试平台的高电压能力和大电流的嵌入式功率器件的测试。此增强功能使V93000足够的权力和足够的模拟和在单一平台上的数字通道进行高度并行的，具有成本效益的嵌入式电源IC的测试。该测试解决方案可满足对单一SoC（系统级芯片）更高的集成度数字、模拟、高速和高功率功能的趋势。通过提供的微控制器单元强大的并行测试与嵌入式电源的功能和其他复杂的功率器件，提供了全球半导体产业中第一个极具成本效益的方式测试快速增长设备所需要的通道密度。

爱德万推出的1.6Gbps数字模块启用协议感知测试具有强大的EDA-LINK（FTA-ELINK）

爱德万推出的新的T2000 1.6GDM数字模块，旨在提高测试系统的效率芯片的T2000测试平台上系统（SoC）器件。1.6千兆位每秒模块采用了新的功能，称为功能测试抽象加（FTA +），可实现协议感知测试。强大的EDA-Link（称为FTA-Elink）可直接连接到T2000测试平台。此外，Verilog代码可以在有1.6GDM模块的T2000 EPP（增强型性能套件）系统上运行。装备的有协议识别引擎的测试仪码型发生器能够独立定时和记忆功能，基于协议的I/O可以以本机方式测量，实现高效的多站点和并发测试。这使客户能够显著加快他们的设计流片，实现更快的产品上市。

爱德万测试推出的T2000增强型组件电源供应模块DPS150AE可满足T2000测试平台客户对于微处理器（MPU）、特殊用途集成电路（ASIC）、现场可编程逻辑门阵列（FPGA）等高电流与低电压半导体的高度精确测试需求，DPS150AE模块将有助于T2000平台以较低测试成本提升高产能、多组组件同测的测试效能。DPS150AE模块采用高速总线技术并结合爱德万测试的Smart Test Condition Memory（TCM），让T2000 EPP系统能够进行模块分割，以一个模块并行同测多个组件同时分别监控评估每个待测物。此外还能随需设定测试条件，再透过TCM快速调整测试，测试工程师不仅可预先加载所有测试程序的参数也能进行编辑，根据图形立即更改设定。

爱德万测试解读中国市场需求，力推三款新品

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