精确高效创新，推动微波行业跨越发展

―R&S公司将参展2016年微波毫米波科技成果及产品展（MWIE2016）

http://www.rohde-schwarz.com.cn/news.php?id=782

2016年国际微波毫米波技术会议(ICMMT2016)暨2016年微波毫米波科技成果及产品展(MWIE2016)，将于2016年6月6-8日在北京举行。MWIE已经有20多年的历史，每年一届，逢双数年和国际微波毫米波技术会议同期举行,逢单数年与全国微波毫米波会议（中国微波年会）一起举办。来自美国、欧洲、亚太和国内的微波毫米波领域的知名专家将参加此次会议，同时众多国内外知名的微波射频元器件厂商前来展示其较新的微波毫米波产品与技术。此次盛会，将是您了解行业产品和技术的较好机会，开拓市场的较佳选择。

罗德与施瓦茨公司（Rohde & Schwarz，R&S）作为全球较大的电子和无线测试设备厂商之一，将在本次展会上全面展示其领先的微波毫米波测试产品和技术解决方案。此次展会，R&S公司共推出5个参展主题：

毫米波太赫兹器件测试技术

• ZVA      矢量网络分析仪

通用微波元器件测试技术

• ZNB      矢量网络分析仪

毫米波及超宽带信号的产生与分析技术

• SMW      矢量信号发生器
• FSW      信号与频谱分析仪

全新的相位噪声测试技术

• FSWP     相位噪声分析仪

较新微波EMI测试接收机技术

• ESW      EMI认证测试接收机

本次展会，R&S公司将展出全新的FSWP相位噪声分析仪，全新的ESW认证测试接收机及性能卓越的毫米波太赫兹测试产品。通过参观和交流，用户将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念，领略到R&S公司全面的微波毫米波测试平台，感受R&S公司在微波行业的影响力。

诚邀您光临R&S公司展台：北京国际会议中心 No.316

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