微捷码3D场解析器QuickCap NX 通过了台联电对其作为参考寄生提取工具的质量检验

芯片设计解决方案供应商微捷码（Magma®）设计自动化有限公司（纳斯达克代码：LAVA）日前宣布，QuickCap® NX通过了台联电（UMC）（纽约证券交易所代码：UMC；东京证券交易所代码：2303）对其作为40和65纳米工艺技术参考寄生提取工具的质量检测。

QuickCap NX是一款公认的3D参数提取器，可对当今纳米提取要求所需的先进工艺效应进行精确的建模，如：光学邻近效应修正（OPC）、化学机械研磨（CMP）、金属层间介电质层（IMD）变异、损伤模型和随宽度变化的温度系数。

台联电的质量检测流程包括了复杂的测试结构，如：环振、金属-氧化物-金属电容器（MOMCap）以及实际设计上关键网路。在所有情况下，QuickCap NX均可无损精度地提供了短的提取周期。

“台联电致力于为客户提供可帮助确保芯片设计成功的尖端设计制造解决方案，”台联电（UMC）IP开发和设计支持部门总监Stephen Fu表示。“QuickCap NX满足了客户在寄生提取方面的需求，我们很高兴能将这款工具添加到我们的设计资源组合中。”

“台联电提供了一些世界上较先进的40纳米量产技术，”微捷码设计实施业务部总经理Premal Buch表示。“它对微捷码3D场解析器的质量检验进一步巩固了QuickCap NX作为寄生提取领域黄金标准的地位。”

QuickCap NX：寄生提取领域黄金标准

QuickCap NX常被主流半导体公司用作为寄生提取参考标准。经证明，QuickCap NX通过与精确分析解决方案和芯片测量密切联系，可提供了芯片测量的1%误差范围以内的电容值。同时，通过提供有关每个网络的拔入精度和误差界限报告，它还为用户提供了对结果精度的完整控制，让用户对结果精度充满信心。目前，QuickCap NX更密切配合芯片测量的能力已得到领先的代工厂的确认；通过将工艺效应考虑在内，QuickCap NX电容值与实际芯片测量间平均差已从9.79%降低为只有0.11%。在微捷码流程中，QuickCap NX可被用以进行布局后分析。同时，QuickCap技术可被合并进Talus®物理设计软件系统中以支持芯片实现期间高度精确的时序和噪声分析；它还可被用于计算Talus和Quartz™ RC签核提取工具内所用的高度精确的电容规则。

微捷码将在6月14-16日美国加州阿纳海姆市阿纳海姆会议中心举行的第47届设计自动化会议（DAC）602展位上展示其整条芯片设计软件产品线。有关微捷码在DAC上活动信息请访问www.magma-da.com/DAC2010。

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